microscòpia electrònica de rastreig

Materials

• ca
  microscòpia electrònica de rastreig f
• es
  microscopía electrónica de barrido f
• en
  scanning electron microscopy n
• Tècnica emprada en la caracterització de materials que utilitza electrons generats en un filament col·locat al buit i voltatges de l’ordre de kilovolts i que permet observar la morfologia i la topografia de les mostres. Quan els microscopis electrònics incorporen detectors de raigs X per dispersió d’energies, es pot obtenir la composició química qualitativa i quantitativa en petits volums de mostra d’uns quants micròmetres cúbics.