microscòpia de forces atòmiques

Materials

• ca
  microscòpia de forces atòmiques f
• es
  microscopia de fuerzas atómicas f
• en
  atomic force microscopy n
• Tècnica emprada en la caracterització de materials que permet reconstruir el relleu en la superfície d’un material com en la microscòpia d’efecte túnel, però que mesura la força electromagnètica entre la punta o sonda i els electrons de la superfície de la mostra i, en concret, els efectes atractius i repulsius de les forces atòmiques, a nivell de piconewtons. La resolució és similar a la de la microscòpia d’efecte túnel però s’aplica a la caracterització de materials no conductors, com ara mostres biològiques.