microscòpia d’efecte túnel

Materials

• ca
  microscòpia d’efecte túnel f
• es
  microscopia túnel f
• en
  scanning tunnelling microscopy n
• Tècnica emprada en la caracterització de materials que consisteix en un circuit elèctric que inclou la mostra que es vol estudiar i una punta de mesura o sonda. Quan la punta s’aproxima a una distància molt petita de la superfície de la mostra, s’estableix una diferència de potencial elèctric que permet que els electrons de la superfície puguin abandonar els àtoms d’origen i es generi un corrent d’efecte túnel. La punta escombra tota la superfície i enregistra aquest corrent, amb la qual cosa s’obté informació del relleu i la topografia i s’estableix un mapa de la superfície. Aquesta tècnica s’utilitza en metalls i semiconductors.